现货 吉时利4200 半导体曲线分析仪 KEITHLEY4200

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• * 直观的、点击式WINOOWs操作环境
• * 独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至 0.1fA
• * 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
• * 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
• * 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
• * 独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
• * 内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试
• * 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
• * 硬件由 Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充
• * 包括驱动软件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
• * 支持先进的半导体模型参数提取，包括IC-CAP和Cadence
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• 在分析器件特性时，脉冲I-V测试非常适于防止器件自发热或最小化电荷俘获效应。通过用窄脉冲和/或小占空比脉冲代替直流信号，可以在保持DUT性能的同时提取重要参数。瞬态I-V测量能让科学家或工程师在时域采集超高速电流或电压波形以便研究动态特性。  

  
  
   

  
  
  
  
  
  
  
  

  纳米技术研究分子级物质，一个一个的原子，以建立具有全新特性的结构。现在的研究包括利用碳纳米管、半导体纳米线、有机分子电子和单电子器件的设备。由于物理尺寸太小，这些器件不能用标准方法测试。4200-SCS参数分析仪具有广泛的测试应用库能让您快速、自信地完成测试。