MJLD型法向发射率测量装置
产品介绍  
MJLD型法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳法向发射率。配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创，填补国内测量材料太阳法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。  
主要用途
测量材料表面的法向发射特性。
技术指标  
法向发射率  
◆测量范围：0.0  5～0.9  9  
◆工作温度范围：室温～100℃  
◆测量不确定度：当εn＞0.7  为±1.5％；当εn＜0.2  为±5％；其余为2％  
◆探测器：平面热电堆  
◆峰值波长：8.4～11μm