概述：

        X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径

        为  0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而

        无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、

        高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的

        有害物质进行分析测量。

  

主要特点：

    1.X射线发生系统采用了聚光导管  由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，

        从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

    2.无需液氮的半导体检测器  在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。

        SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，

        所以无需液氮。

    3.能谱匹配软件（选配件）  可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。

        对识别材料十分有效。

    4.块体检量线软件（适用于电镀液分析）  （选配件）  可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

    5.绘图软件（选配件）  将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

    6.电镀液容器（选配件）

    7.各种标准物质（选配件）

  

产品规格：