1、  仪器主要功能
FLBQ激光光束质量分析系统能够测量激光光束的二维和三维分布（长短轴大小、光强的空间分布），配合精密刻度导轨能计算出激光光束的1/2发散角和1/e2发散角。不仅适用于小发散角（如固体、气体激光器等）的测量而且适用于大发散角的半导体激光器。
        (1)图象获取功能
        实时采集：可随时监测光束强度(功率、能量)的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线，并显示直径等参数。
        图象“冻结”：可根据需要捕获典型的光束图象，作为TIFF文件存贮，供分析处理。
        连续及脉冲图象的“抓取”：具有“软触发”功能，其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲，增加了使用的方便性和安全性，特别是对于Q开关脉冲激光器的场合，由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接，减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。
        (2)分析测量功能
        二维光束截面功率、能量分布；
        光束截面功率、能量的三维图(任意方位角，俯仰角)；
        通过光束截面内任一点沿X，Y方向的光强分布；
        不同定义下的光束直径及与高斯分布的符合程度；
        (3)其它功能
        自动反差调整功能
        快速连续取、放多幅图象
        打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出(可与激光、喷墨等多种型号打印机适配)。

2、  主要技术指标
a)    测试波长范围：（可选）；
型号
波长测量范围(nm)    发散角测量精度  
激光最大功率（W）
LBQ-400-1100    400-1100    <5%    100W
LBQ-190-1310    190-1310    <5%    100W
LBQ-1440-1605    1440-1625    <5%    100W
LBQ-900-1700    900-1700    <5%    100W
LBQ-400-2200    400-2200    <5%    100W

b)  测试激光功率范围：0.01mW~100W  (CW)；
c)  最大测量光斑直径:  60mm；
d)  测量暗箱采用吸光材料，以消除杂光干扰；
e)  光学元件置于光学精密调节架上，以保证其平稳调节；
f)  光学暗箱外形尺寸:  624mm×360mm×160mm。
3、  光路原理
(1)原理框图



(2)暗箱光路
  
4、主要配置
部件名称    数量    型号或功能描述
计算机主机    1    采用pc机，内置显卡、声卡、预装WinXP操作系统
显示器    1    19英寸液晶显示器
CCD1    1    适合于400-1100nm测试
CCD2    1    可选。
图像采集卡    1    数据采集。
精密测试道轨    2    用于器件固定与移动
高级中性滤光片    3    用于衰减大功率激光（三片，拧到CCD上直接使用）。
附加滤光片（整套）    1    补充衰减
镜头    1    CCD专用（需配合投射屏使用）
导轨与支架（整套）    1    用手移动光学器件，测试距离。固定光学器件等
红外感光卡片    1    用于调试光路