动态平板探测器超薄平板成像器是一种X线直接转换技术，它利用硒作为X线检测器是基于技术，它利用影像板作为X线检测器，成像环节相对DR较多。DR和CR将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息，灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理主要内容是：闪烁，传感器和电子控制单元，数据读出并传输到工作站。动态平板探测器设计允许的DFP发展不同探测器尺寸，这取决于应用领域。动态平板探测器最大的好处是一鲁棒控制和设计，读出电路嵌入，直接进入图像传感器芯片。动态平板探测器基于CMOS的DFP，技术包括二极管传感器阵列的像素尺寸50微米。这使极低暗电流和读出噪声值，高二极管参数一致性，动态平板探测器高倍率的X光透视检查高达100帧，在整个活动地方就可以实现.