近日，接到很多厂家咨询激光雷达产品可靠性平均无故障间隔时间MTBF指标验证试验，测试要求MTBF≥50000小时。这个指标要求的小时数也是非常多的，很多激光雷达本身的价值较高，一次性没法提供很大样本量的产品，一般就能提供1-2台样机，这种情况，按照标准的测试方案（GB/T5080.7,GJB899A）都是实际上不太好实施的。实际测试的周期太长，导致测试的成本很高，很多厂家确实没法承受，比如一个产品才售价1-2000的话，需要几十万的测试费，一般不太符合实际。
对于这种情况，我们比较适合的解决方案有哪些的？
1、采用可靠性预计的方式，通过可靠性建模和预计，系统建模，单元可靠性预计，系统可靠性预计，推算出产品的使用寿命还有分析出来产品本身存在的薄弱环节；
检测依据：GB/T37963-2019电子设备可靠性预计模型及数据手册；GJBZ 299B-1998 电子设备可靠性预计手册；IEC TR62380-2004,IEC TR63164-2-2020;
产品数量提供一台就可以进行评估，提供产品的电子元器件清单。
2.采用加速的可靠性寿命试验评估方法进行预估测试，依据标准：GB∕T 34986-2017 产品加速试验方法。
提供产品数量至少为2台。
采用的环境应力有哪些呢？
比较常见的有低温应力、高温应力、湿热应力、高低温交替应力、正弦振动应力、随机振动应力、电源电压拉偏应力、产品正常工作状态下应表现出来的其他应力条件。

备注：
激光雷达主要包括激光发射、扫描系统、激光接收和信息处理四大系统。激光发射和激光接收是激光雷达的光电组件部分。其中发射模块中的激光器发出脉冲激光，通过光束控制器、发射光学系统，将激光照射至目标物体，常见的激光发射器包括边发射激光器（Edge Emitting Laser，EEL）、垂直腔面发射激光器（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，VCSEL）。而接收系统将目标物体反射回来的激光转化为接收信号，主要包括雪崩二极管（Avalanche Photo-Diode，APD）、单光子雪崩二极管（Single Photon Avalanche Diode，SPAD）、硅光电倍增管（Silicon photomultiplier，SiPM）。

激光雷达组件的可靠性要求通常包含环境应力加速试验、加速寿命模拟试验、封装完整性测试、电气特性验证试验、腔封装完整性验证试验。试验要求零失效且通过相对应标准规定的全部测试项目。