• 每个测试图案由 8 条线组成，T 形布局
• 吸收材料：钨，厚度>=650nm
• 保护膜：PET膜25μm（含粘合剂）
• 硅基：15 μm +/- 1 μm（厚度）
• 外壳尺寸：40 x 30 x 5 毫米（宽 x 高 x 深）
• 芯片尺寸：5 x 5 x 0.06mm（宽 x 高 x 深）
• 精度模式： 公差： +/- 10%
• 适用范围工作温度：10°C至70°C

JIMA RT RC-04分辨率测试卡用途：
在 X 射线系统的分辨率测试。选择检测器、样品和试管之间的距离，以便获得尽可能高的放大倍数。现在选择所需的 X 射线参数。将测试图案放置在试管前面，以便一束线条中的每条线条清晰可见。使用机械手进行溶出度测试，使下一个最小的线束变得可见。只要线条清晰，就继续。以下近似适用：焦点尺寸等于分辨率乘以 2。