半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案；详询一八一四零六六三四七六；

S型数字源表应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件

产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作           

内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.03%

四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA

丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储，一键导出测试报告

支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

技术参数

Z大输出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

电流源：±3.15A（≤10V量程），±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

过量程：  105%量程，源和测量；

稳定负载电容：<22nF；

宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV     Vp-p（典型值）；

线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80uV；

最大采样速率：1000  S/s；

触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；

输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太网；

电源：AC  100~240V      50/60Hz；

工作环境：25±10℃；

尺寸：106mm高 ×  255mm宽 ×      425mm长；

S系列源表应用

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；

普赛斯源表优点：

同时精确提供和测量电压和/或电流；

       同步测量，减少测试时间

提供和测量非常广的电流和电压；

        电压测试范围±90uV-±300V,电流测试范围±30pA-±3A

支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；

       序列测试，简化操作，降低成本

采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；

       触屏操作

 
与传统电源比：

电源过零需要改变线连接方式；

     增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性

电压电流限制精度有限；

电压1%，电流10mA

与电源结合万用表组合比：

万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；

     复杂连线、编程开发

电源限压限流性能差

      限压限流精度低，瞬态特性也无法保证

更多有关半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表的信息找普赛斯仪表为您解答，普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!