MicroTEQ-S1显微光谱测量系统,集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上,实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成,自由灵活,帮助用户快速对样品微观结构,微观光谱信息的测试和分析;此外系统可以加装二维电控扫描台,通过软件控制,实现光谱二维扫面测量功能。
应用范围
纳米材料分析;
拉曼模式
拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中,从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm,仅需通过更换探头和激光器,便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。
搭配便携式拉曼光谱仪
显微光谱测试模块也能够完美适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼,即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量,还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。
其他模式
颜色和反射测量:使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来,共用荧光光路,即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。
二维Mapping:选配二维电动平台,使用操作软件设置面扫描采样, 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据,可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。
* 产品图片仅供参考,具体以实际配置为准
光谱仪配置
拉曼
拉曼
荧光
光谱仪
QEPRO@532nm
QEPRO@785nm
QEPRO-FL
光谱范围
150-4200cm-1@532nm
150-2000cm-1@785nm
300-1050nm
分辨率
~10cm-1@5um狭缝
~6cm-1@5um狭缝
1.5nm@5um狭缝
信噪比
1000:1
A/D
18位
探测器
背照减薄型面阵CCD
杂散光
0.08%@600nm
线性度
>99%
动态范围
85000:1
暗噪声
6RMS@18位
积分时间
8ms-60mins
激光器
LASER-532
LASER-785
LASER-405
LASER-450
激光波长
532nm
785nm
405+/-2nm
450+/-2nm
激光功率
0-300mW可调
0-500mW可调
0-200mW可调
0-200mW可调
线宽
<0.2nm
<0.1nm
2nm
2nm
寿命
10000h
10000h
10000h
10000h
拉曼探头
RPB-532
RPB-785
OD值
OD>6
OD>6
焦距
7.5mm
7.5mm
激光输入端光纤
100um
光谱收集端光纤
200um
显微光谱测量模块
Micro-S1
光谱范围:400-1100nm
显微镜
4组平场消色差物镜:5X,10X,20X,50X
5X,数值孔径:0.15,工作距离:10.8mm
10X,数值孔径:0.3,工作距离:10mm
20X,数值孔径:0.45,工作距离:4mm
50X,数值孔径:0.55,工作距离:7.9mm
100X,数值孔径:0.8,工作距离:4mm(非标配,可选)
1/2”CMOS彩色CCD,2048*1536(300万像素)
载物台面积175mm×145mm,移动范围:76mm×42mm
二维电控平移台(可选配)
一体式二维电控平移台,含控制器;
行程:50mmx50mm;
重复定位精度:2um;
移动分辨率:1um;
02
09
2022
显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1
来源:[北京中瑞先创科技有限公司]
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