芯片特性测试VI源表 简介

S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

产品特点

?  5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作

?  内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

?  源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位

?  四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V

?  丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

?  支持USB存储，一键导出测试报告

?  支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

芯片特性测试VI源表 技术参数

芯片特性测试VI源表 应用

l  分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

l  能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

l  传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

l  有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

l  纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

芯片特性测试VI源表 联系我们：

单位名称 ：武汉普赛斯仪表有限公司

官方网站 ：http://www.whpssins.com

单位地址 ：武汉市东湖开发区光谷大道308号光谷动力绿色环保产业园8栋2楼

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