膜厚分析仪参数规格  
1分析元素范围：S-U  
2同时可分析多达5层以上镀层  
3分析厚度检出限达0.005μm  
4多次测量重复性可达0.01μm  
5定位精度：0.1mm  
6测量时间：30s-300s  
7计数率：1300-8000cps  
8Z轴升降范围：0-140mm  
9X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)  
性能特点  
1满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；  
2φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；  
3高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；  
4采用高度定位激光，可自动定位测试高度；  
5定位激光精确定位光斑，确保测试点与光斑对齐；  
6鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；  
7高分辨率探头使分析结果更加精准；  
8良好的射线屏蔽作用；  
9测试口高度敏感性传感器保护；  
安装要求：  
1环境温度要求：15℃-30℃  
2环境相对湿度：<70%  
3工作电源：交流220±5V  
4周围不能有强电磁干扰。  
详情点击：http://www.rohs68.com/Products-28601107.html  
http://www.chem17.com/st366909/product_28601107.html  
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