仪器特点：日本精工SEA1000AII能量色散型X射线荧光分析仪（Hazardous  Substance  Monitor）  X射线荧光分析仪  XRF  Analyzer  X射线荧光分析仪
日本精工SEA1000AII能量色散型X射线荧光分析仪（Hazardous  Substance  Monitor）日本精工SEA1000AII能量色散型X射线荧光分析仪（Hazardous  Substance  Monitor）　技术特点【技术特点】--  日本精工SEA1000AII能量色散型X射线荧光分析仪（Hazardous  Substance  Monitor）
该款产品针对RoHS和WEEE指令开发设计，对铅、镉等有害金属进行ppm级的分析。

并且改变了无液态氮的检测器灵敏度差的观念。

比较ICP或AAS，SEA1000AII具有以下明显优势：

1.最为经济快速之方法。

2.可保持样品完整性。

3.  样品无需处理直接测试，不需消化，省时、没有废气及废酸之污染。

4.全自动分析，操作简单。

5.实验无危险性。

6.中国、日本及欧洲官方建议使用之方法。

对比目前市面上的XRF分析仪，SEA1000AII在应对Rohs检测最为专业，具有以下优点：

1、SEA1000AII采用电子制冷，具有无须液态氮消耗、安全和测量速度快的优点。

目前市面上的台式XRF机型主要分为电子制冷和液态氮制冷的机型。从发展是来看，最早的半导体检测器采用Si-Li检测器，其工作温度为-160℃，由于电子制冷的温度在-70℃以下制冷能力大大下降，必须采用液态氮(-196℃)才能达到好的效果。在80年代中期随着电子技术的反展，出现高纯Si检测器，其工作温度仅为-40℃，使用电子制冷可快而好地满足使用的要求。电子制冷机型在以下方面具有显而易见的优点：

无需液态氮的成本，液态氮的成本为液态氮价格及运输费用组成，此项每年约节约1万元。

无需担心运作成本及添加时的安全性，更加方便。液态氮的温度为-196℃，在添加的过程中需人工转移，带来安全隐患。

电子制冷机型的检测器计数率较液态氮机型高3倍，在达到同样测试精度的条件下测量时间较液态氮机型仪器缩短3倍。

2、采用大面积高灵敏度的检测器、超强的检测器计数量以及样品到检测器之间最短距离的设计，从而保证高效的X射线检测能力。其检出灵敏度超过Si(Li)检验器。实现了世界最高水平的检测灵敏度(Cd:1.9ppm；Pb:1.0ppm)。

3、针对塑料及电子组件中有害重金属设计之X射线萤光分析仪。

4、元素分析范围可从镁(Al13)~铀(U92)，除可分析有害金属外，亦可用于材料检测及鉴定，例如：组成分析、贵重金属回收等。

5、配置了特别对于有害物质有高灵敏度效果的检测器，具高灵敏度及准确度，即使是单颗为小样品一样可以测试出准确数值。实现了世界最高水平的检测灵敏度(Cd:1.9ppm；Pb:1.0ppm；Br:0.3ppm；Hg:1.2ppm；Cr:2.3ppm)。

6、搭配三套可计算机自动控制切换的一次滤波器(Primary  Filter)。藉由一次滤波器之选择，可以降低各测定元素之X射线的背景，调整出最具感度之輻射，不只是塑料，在测定金属上也具有高灵敏度的测定，使分析侦测浓度更低。

7、采用新式小型空冷式之X光管，可做低电压(15  kV)、中电压(31  kV)、高电压(50kV)二段自动控制，电流可以从0~1000μA一样品需求作最佳化的自动输出强度调整，全自动省却人为调整所会造成的不准确度。

8、采用目前先进的硅半导体侦测器。25mm2大侦测面积尺寸侦测器，灵敏度及准确度是一般侦测器的五倍。无需液态氮的成本，更加方便。

9、具备370mm(宽)x320mm(深)  x155mm(高)的大型样品室，比A4尺寸小的手提电脑也可以直接放入样品室进行测定，不用损坏样品，即可针对各种尺寸样品进行直接量测，增加分析上的弹性及方便性。

10、配备有CCD监视器，监测样品分析位置，可将样品做局部放大，作准确定位及分析，同时能储存分析点之影像，連同测试报告一起输出，方便测试资料结果之管理。由于安装了CCD监视器，故可一边进行观察样品，一边进行测定欲测定的部分，X射线的照射范围显示在十字线上线。SEA1000A搭配了1  mm小尺寸的准值器，可以对特定量测点做准确的定位。

11、具有微小1  mm及广角5  mm兩组准直器，可依分析条件自动切换。不论是分析大面积的样品，或是作小区域的微区分析均适合。

12、提供符合RoHS检测的标准品。原厂附含氯及非含氯标准品：四类不同材质及浓度的有害重金属元素标准品，可以一次量测建立多种元素的标准曲线；  能提供  Pb、Cd、Hg、总Cr、总Br  标准浓度量测。

13、全中文化操作软件接口，可以显示中文繁体或者简体字，易学、易懂、易操作，另外，操作软件也配合计算机操作系统的语言改以英文或日文显示。

14、形状厚度自动补正功能(Seiko专利)。针对塑料的应用提供塑料专用软件，软件上具自动修正的功能，排除因样品尺寸、厚度、形狀、放置位置以及与侦测器相对位置等差異所造成之误差。一般XRF无厚度及形狀补正功能时，误差常高达真值的10倍~100倍。

15、含氯塑料自动补正功能(Seiko专利)。针对塑化高分子材料，设计一套高功能性之自动区辨软件，能针对材料中是否有含氯元素作自动判定，选择相对应的标准物检量