ZWPY-645
ZWPY-645/322型平压试样取样器详细介绍
本试样取样器是瓦楞纸板平压强度试验必备的专用取样器具，它可快速、准确的切取规定面积的试样，是瓦楞纸板及纸箱生产、科研及质量监督检验部门理想的辅助试验器具。

主要技术参数

取样面积：  64.5cm2   (ZWPY-645型)

                     32.2 cm2   (ZWPY-322型)

取样面积误差：±0.5cm2

取样厚度：＞7mm

仪器净重：6kg
ZWPY-645平压试样取样器
ZWPY-645/322型平压试样取样器详细介绍
本试样取样器是瓦楞纸板平压强度试验必备的专用取样器具，它可快速、准确的切取规定面积的试样，是瓦楞纸板及纸箱生产、科研及质量监督检验部门理想的辅助试验器具。

主要技术参数

取样面积：  64.5cm2   (ZWPY-645型)

                     32.2 cm2   (ZWPY-322型)

取样面积误差：±0.5cm2

取样厚度：＞7mm

仪器净重：6kg
ZWPY-645平压试样取样器
ZWPY-645/322型平压试样取样器详细介绍
本试样取样器是瓦楞纸板平压强度试验必备的专用取样器具，它可快速、准确的切取规定面积的试样，是瓦楞纸板及纸箱生产、科研及质量监督检验部门理想的辅助试验器具。

主要技术参数

取样面积：  64.5cm2   (ZWPY-645型)

                     32.2 cm2   (ZWPY-322型)

取样面积误差：±0.5cm2

取样厚度：＞7mm

仪器净重：6kg

HD8002反射式激光测厚仪
产品描述：
用途：反射式激光测厚仪广泛应用于各种柔性透明及非透明板材、片材、薄膜等产品在运行过程中的厚度测量，也可用于涂层的测量。
功能：在线实时测量监控、数字显示、自动报警、生产过程控制调节及计算机RS485串口通讯。 
特点：采用无污染激光测量法，连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量，具有无辐射、安全性能好、响应快速、不受被测物材质影响，操作维护简单，精度高的特点。
技术参数：
测量范围：6mm（或可按要求设定范围）；
测量采样速度：每秒2000次；
显示速度：每秒2～3次（或可按要求设定范围）；
测量精度：动态0.01mm；
测量原理：激光单反射；
测量方式：单点定点测量；
探头至板材距离：26mm（或可按要求设定范围）；
调节输出：0—5V（0—10V）做设备自动调节使用；
RS485串口通讯：本仪器可与计算机通过RS485串口相连。