X射线金属镀层测厚仪与元素(RoHS)分析仪  XRF-2000  (R)系列  
H-Type
L-Type
PCB-Type
    
介绍：
    X射线金属镀层测厚仪利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。XRF-2000系列分为以下三种：
1.  H-Type:  密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2.  L-Type:  密闭式样品室，方便测量  样品较小，高度约30mm以下。
3.  PCB-Type:  开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
4.  R-Type:  结合膜厚量测，元素成份及含量分析功能(RoHS分析仪)。

应用:
    测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。RoHS:  Al(13)选配。

行业:
    五金类、螺丝类、PCB类、  连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等。

特色:
非破坏，非接触式检测分析，快速精准。
可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。
兼容Microsoft  微软作业系统之测量软件，操作方便，直接可用Office软件编辑报告。
标准配备  :  溶液分析软件，可以分析电镀液成份与含量。
准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择准值器的口径。
移动方式：  全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
雷射  自动对焦，配合彩色CCD撷取影像使用point  and  shot功能。
独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
元素成份与含量分析1ppm侦测极限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物质检测分析。(选配)
标准ROI软件搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
光学20X影像放大功能，更能精确对位。
单位选择：mils、uin、mm、um。
优于美制仪器的设计与零件可  靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。
仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合ISO  3497、ASTM  B568及DIN  50987。