型号  LE-200J  LH-200J  LZ-200J  
测定对象  磁性金属上非磁性薄膜  非磁性金属上绝缘薄膜  磁性金属上非磁性薄膜/
非磁性金属上绝缘薄膜  
测定范围  0~1500µm  0~800µm  磁0~1500µm;涡0~800µm  
测定精度  未满15µm：±0.3µm；15µm以上±2%  未满50µm：±1µm；50µm以上±2%  磁:未满15µm：±0.3µm；15µm以上±2%
涡:未满50µm：±1µm；50µm以上±2%  
解析度  未满100µm：0.1µm；100µm以上1µm  
最小测定面积  3×3mm  5×5mm  
测定功能  1.单点测试  2.连续扫描测试，可测试膜厚分布变化  
显示方式  LCD数字大型屏幕显示，16键密封按键，公、英制可切换µm/mils  
校正记忆容量  4组，任何时间开机后不需再重新校正/1500点    共8组/共3000点  
资料记忆/统计功能  测定次数、平均值、最大值、最小值、标准偏差/内建式打印机，可自动统计记录  
界限值功能  可任意设定上、下限判定功能，如测值超出范围则电子报警  
尺寸W×D×H/重量  120×250×55mm/1.1kg