Micro  Pioneer  XRF-2000R  X光镀层测厚仪及ROHS原素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其物点为：高分辨率，固态探测器；  分析有害物质，元素分析分之  ppm  -  100％,  符合RoHS  /  WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用；  测量多层镀层或锡铅成分分析；电镀溶液分析；定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器