产品用途
该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
三箱式：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,  测试产品为静态式。
产品符合标准
设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5  GJB1217等标准的要求。
技术参数    
型号    WDCJ-162  WDCJ-340  WDCJ-500  WDCJ-010  
工作室尺寸:mm  450×450×450  600×600×600  800×800×800  1000×1000×1000  
样品区尺寸:mm  300×300×250  450×450×360  650×650×500  850×850×700  
性
能
指
标    温度范围    A:-20℃～200℃
B:-40℃～200℃
C:-60℃～200℃    
温度波动    高温室及低温室均≤±2℃    
样品区温度波动    ≤±0.5℃（恒温时）    
样品区承重    20kg    30kg  50kg  
温度运行控制系统    控制器    日本进口UMC-1300真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器
韩国进口TEMI880真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器
（选其一）  
精度范围    设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃    
制冷系统    进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式    
循环系统    耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮    
温度转换时间    从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S  
温度恢复时间    ≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）    
以上为标准型试验箱，可根据用户的具体要求定做非标型  
本技术信息，如有变动恕不另行通