CMI900  X射线荧光镀层测厚仪  
应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量  ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量

技术参数

主要规格    规格描述    
X射线激发系统    垂直上照式X射线光学系统    
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗    
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等    
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准装备有安全防射线光闸    
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选    
准直器程控交换系统    最多可同时装配6种规格的准直器    
－测厚范围    可测定厚度范围：取决于您的具体应用。    
－基本分析功能    采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。    
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)    
可检测元素范围：Ti22  –  U92    
        可同时测定5层/15种元素/共存元素校正    
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能  
测量范围宽  
NIST认证的标准片  
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