CMI900  X射线荧光镀层测厚仪  
应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量  ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量

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技术参数

主要规格    规格描述    
X射线激发系统    垂直上照式X射线光学系统    
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗    
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等    
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准              75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选    
装备有安全防射线光闸    
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选    
准直器程控交换系统    最多可同时装配6种规格的准直器    
多种规格尺寸准直器任选：  －圆形，如4、6、8、12、20  mil等  －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等          
测量斑点尺寸    在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078  x  0.055  mm(使用0.025  x  0.05  mm准直器)    
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38  x  0.42  mm(使用0.3mm准直器)    
样品室    CMI900    CMI950    
－样品室结构    开槽式样品室    开闭式样品室    
－最大样品台尺寸    610mm  x  610mm    300mm  x  300mm    
－XY轴程控移动范围    标准：152.4  x  177.8mm  还有5种规格任选    300mm  x  300mm    
－Z轴程控移动高度    43.18mm    XYZ程控时，152.4mm  XY轴手动时，269.2mm    
－XYZ三轴控制方式    多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制    
－样品观察系统    高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。    
激光自动对焦功能    
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能    
计算机系统配置    IBM计算机  惠普或爱普生彩色喷墨打印机    
分析应用软件    操作系统：WINOOWs2000中文平台  分析软件包：