有害元素荧光X射线检查装置  XGT-1000WR


  

XGT-1000系列是专用机，是应对快速简单地测定小型化进程中电子部件含有的有害元素的市场需求而开发的。
(对应WEEE  /  RoHS  /  ELV  指令)  应用多年的X射线技术，X射束的强度大约高10倍，可高灵敏度(镉灵敏度1.8ppm)地检测业内最微小区域(1.2㎜)的有害物质。而且，能够一边观察CCD照相机的图像，一边简单设定试样的测定点，通过将试样室大型化，长配线和电视框架等试样可在不用切断的前提下加以测定。  

※使用HORIBA独有的“缩短测定时间功能”时。
“缩短测定时间功能”：根据有害元素管理值、试样为全自动，设定最佳判定时间的装置。
此外，判定时间因有害元素的浓度和试样的材质而有所不同。  


特征：

●使用1.2㎜φX射线导管(XGT)实现微小部的高灵敏度分析。
●采用大型试样室(460X360X150㎜)。  
●大气分析(采用真空探针方式＜取得专利后＞)。  
●试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等的液体。
●可使用CCD照相机(50倍)一边目视一边指定试样的位置。  (业内首家!X射线?光学  同轴照射)
●测定可一键实现简单操作  。
●修正氯等的共存元素，修正试样的厚度、形状。
●FPM(不标准)  
●数据输出到EXCEL®和自动判定功能。
●可进行100μm微小分析(可选项)。

  

规格：

XGT-1000WR  
测定原理  能量分散型荧光X射线分析法  
测定元素  Si～U?Na～U(可选项)  
检测下限  Cd，  Pb，  Hg，  Br≦2  ppm，  Cr≦5  ppm，  @1.2  ㎜φ(PE样品)  
试样形状  最大460×360  ㎜(高度150  ㎜)  
试样  塑料、金属、纸、涂料和墨水等的液体  
试样室气体  可搭载大气、真空探针(可选项)　对轻元素进行高灵敏度分析  
XGT元件  空间分解能  可増设1.2  ㎜，  100  μm(可选项)  
X射线管  50  kV/1  mA、Rh目的靶  
真空探针  大气中试样分析  
一次X射线滤色镜  5元素同时分析用(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)、  Cd专用/Cr，Cl专用/P用(无滤色镜)等最多4种自动切换(可选项)  
检测器  脉冲管无液体氮检测器(1100WR)、氮冷却型3L(1000WR)均为高纯度Si检测器  
试样室  460×360×150  ㎜  
光学像  用倍率50倍观察(同轴)、样品整体像(可选项)  
分析功能  定性  自动定性功能、BG显示、ROI分类、匹配功能  
定量  FPM定量、标准曲线定量、有害元素定量(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)(Cl修正、厚度修正、线缆修正)、测定功能缩短功能*  
测定  序列  可一键完成条件设定→测定→定量分析  
多层膜  多层膜FPM(可选项)  
数据管理  (可选项)  输出Excel®数据管理软件、Green调配支援软件、检查报告书  
电源  AC100  V、120  V、220  V、240  V  ±10％、50/60  Hz  
消耗电力  1.3  kVA以下(XGT-1000WR)、2.3  kVA以下(XGT-1100WR)  
装置质量  约200  ㎏(XGT-1000WR)、约290  ㎏(XGT-1100WR)  
外形尺寸  分析部  610(W)×750(D)×500(H)㎜  
信号处理部  220(W)×500(D)×480(H)㎜