F20利用光谱反射/透射技术，通过采集不同波长下光的反射率/透射率来计算出薄膜的厚度、折射率以及吸光系数等参数，整个测量过程只用不到一秒钟的时间。
针对不同的膜厚范围，F20共有标准型F20,F20-UV,F20-UVX,F20-NIR,F20-EXR,F20-XT几款型号，测量膜厚范围3nm-1mm，精度是±1nm，通过USB接口和电脑连接后即可使用。
产品应用包括：半导体、LCD以及光电镀膜等。