温度冲击试验箱是应用液体汽体辅助减温，待测物静止不动的检测方法，是当今电子部品检测、科学研究、及其半导体材料生产流水线可用，可节约耗品检测花费，实际操作便捷、高信任度，是经很多年科学研究开发设计的试验仪，为顾客出示长期性靠谱的检测工具。
  本设备分为高温、低温、试件三个部分，采用断热结和蓄热、蓄冷效果，通过冷热风路切换方式导入试件，进行冷热冲击试验，本机采用全息式电脑大液晶(320X240dots)中英文显示控制系统，程序内存大，可设置存储100组程序，大循环设置9999cycles，每段时间存储9999Hrs59Mins，带有RS-232C通讯接口的设备，可以通过此键与计算机联线操作/编辑/记录和十组动态连接。在冷、热冲击条件下执行，功能有2Zone或3Zone，具有全自动、高精度系统，任意一台机器的动作，全部由锁紧装置完成，当机器出现故障时，配有自动线路和警告信号，当发现输入电力不稳定时，有紧急停车装置。测试模式：气动风门切换为2室模式或3室模式。
  尽管普通的温度冲击试验标准对冷、热冲击试验的开始温度未作硬性规定，但在进行 温度冲击试验箱试验时这是一个要考虑的问题，因为试验是在低温还是高温条件下进行的，因此决定了是否需要对产品进行干燥，从而延长试验时间。当测试结束时，低温标准受试产品从冷热冲击测试箱(室)中取出后，应在正常测试环境条件下恢复测试，直至样品达到稳定的到达温度，此操作不可避免地会使试样表面产生凝露引入温度对产品的影响。因此改变了试验的性质。
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