致芯科技采用国际上先进的IC检测设备及算法研究，配备进口IC实验设备，包含的聚焦离子束（FIB）、扫描电镜（SEM）、透射电子设备（TEM）。公司主要技术人员均在知名公司从事过集成电路设计研发，集成电路的失效分析以及逆向研究，从事过，单片机（MCU）以及DSP等数字控制系统的开发。解密不成功不收取任何费用。

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