微区X射线荧光光谱仪的技术参数和信息
微区X射线荧光光谱仪的技术参数：
参数规格
光源 高性能微焦斑光管，钨靶，玻璃窗
电压、功率40kV、40W
探测器大面积正比计数器1100mm2感应面积
光斑尺寸0.3-1.0mm准直管（出厂时设定）
样品观察高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍
样品台手动剪式样品升降台
定量分析基于标准样品的经验模型
基于基本参数法的无标样模型
电源;230V/50Hz,100W
尺寸;355×330×330mm
重量;26公斤
M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。
上照式光管，光斑尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。
样品尺寸大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。
采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多，分析结果越。可以检测含量在0.5%以上的元素。
基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高，精度达到0.2 wt%。对于没有预想到的元素也能够进行分析。
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http://www.boyuesh17.com/SonList-1455439.html 
http://www.chem17.com/st4016/erlist_1455439.html