日本kett膜厚仪LZ-200J电磁性测厚仪 产品参数
LZ-200J采用电磁和涡流两种测量模式，可无损检测磁性金属上非磁性覆层厚度及非磁性金属上绝缘层厚度，内置打印机、有统计储存、连接电脑等功能，对微波厚度的涂镀层测量有较高的精准度。本产品广泛用于汽车制造、船舶制造、金属加工等领域行业。
日本kett膜厚仪LZ-200J电磁性测厚仪 参数规格
型号LZ-200J
测定方法电磁诱导式、涡电流式兼用
测定对象磁性金属上的非磁性薄膜及非磁性金属上的绝缘膜
测量范围电磁式：0-1500um或60.00mils
涡流式：0-800um或32.00mils
测量精度电磁式：<15um:±0.3um;>15um:±2%
涡流式：<50um:±1um;>50um:±2%
测试面积≥5*5mm
测试单位公/英制
分辨率≤100um:0.1um≥100um:1.0um
统计功能测试次数、最大/最小值、平均值、标准偏差
显示方式LED数显
探针一点接触恒压式（LEP-J,LHP-J）
外部输出RS-232C接口，传送速度2400bps
尺寸、质量120W*250D*55H mm，1000g
附件探头、基体、校准片、电池、V型块、变压器、皮套、合格证、说明书
附加功能内置打印、储存统计、连接电脑功能：RS232标准接口
界限设定可设定上/下限
电源电源AC 100V（50/60Hz）或电池1.5V（单3碱）
选配件探头、标准片、数据输出线
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