电容器是电子设备中的重要元件。电容器种类较多，它们的主要失效模式和机理都不尽相同。常见的失效模式有击穿短路、开路、电参数退化（容量变化、损耗角正切值增大、漏电流增大和绝缘电阻下降），电解液泄漏和引线腐蚀断裂等。
      开路和短路一类突然发生并完全失去功能的失效叫做致命失效（完全失效），因电参数超差而逐渐失去功能的失效叫做退化失效（部分失效）。其中致命失效危害极大，但退化失效往往是致命性失效的诱因和预兆。
      电容器在工作应力（电压、电流、脉冲电压、高频电流、脉动电压）和环境应力（温度、相对湿度、日照、时间、振动、冲击、霉菌及有害气体）的共同作用下会分别或同时发生某些失效模式和失效机理，随着时间推移一种失效机理还会衍生出另一种失效机理。即使在一种应力作用下也能够同时诱发两种以上的失效机理。由于各种电容器的材料结构、制造工艺、性能和使用环境及条件的不同，其失效模式和机理也不相同。结合电容器的特点，根据实践经验，有几种应力在激发电子元器件的内部缺陷方面特别有效。因此通常仅用几种典型应力进行筛选。
1.1 温度冲击
      温度冲击的目的是测定元器件承受极高温和极低温的能力，以及极高、低温交替变化对器件的影响。温度冲击期间产生的电性能和外形损坏的变化，主要是由尺寸和其他物理性能变化引起的。
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