薄膜键盘按键寿命试验机
CH-524薄膜键盘按键寿命试验机可测试NOTEBOOK(手机，PDA)之按键及各种按钮，开关之耐久寿命试验，可同时测试数个产品，另每个按键可设定不同压力及不同高低。

薄膜键盘按键寿命试验机技术参数
1、动作行程：10mm(固定)
2、工件高低调整范围：100mm
3、夹具夹持能力：400*300mm
4、测头安装范围：350*250mm
5、试验次数：999999*10次(可调)
6、试验速度：60~300Rpm(可调)
7、电压：AC220V  或110V(www.chuanghen.com)

薄膜键盘按键寿命试验机性能特点：
可同时测试数个产品，每个产品均可多点测试，每个按键可以设定不同压力及不同高低，每个工作科独立互不干扰，且按键顺序可调。

薄膜键盘按键寿命试验机荷重测头调整
1、荷重范围：50-450g或100-1000g
2、测头高低调整：15mm  （www.chuanghen.com）
3、两支测头最小间隔：X方向10mm，Y方向12mm